برای دانلود فایل روی لینک روبه‌رو کلیک فرمایید: مدهای کاری SEM
عنوان گزارش: مدهای کاری Scanning Electron Microscope
تهیه‌کننده: مسعود فکوری حسن‌آبادی، پژوهشگر پسادکتری دانشگاه صنعتی شریف
نوع فایل: PDF
تعداد صفحه: ۴ صفحه مختصر و مفید (فارسی)
محتوای ارائه:
مشاهده توپولوژیکی (تصویر SE)
مشاهده ترکیبی (تصویر BSE)
آنالیز عنصری (اشعه X)
مشاهده ساختار درونی (TEI)
مشاهده سیگنال خفیف (تصویر کاتودلومینسانس)
تصویر جریان القالی پرتو الکترونی (EBIC) یا تصویر نیروی الکتروموتیو
آنالیز ساختار بلوری
کنتراست تونل‌زنی الکترون (ECC)
الگوی تونل‌زنی الکترون (ECP)
مشاهده حوزه‌های مغناطیسی
جلوگیری از ایجاد شارژ الکترواستاتیک در نمونه‌های عایق
مراجع
واژه‌نامه
. Secondary Electron Image
. Backscattered Electron Image
. Line scan analysis
. Elemental map
. Transmitted Electron Image
. Transmission electron microscopes
. Light Signal Observation
. Cathodoluminescence Image
. Electron Beam-induced Current
. Electromotive Force Image
. Electron Channeling Contrast
. Electron Channeling Pattern
. Magnetic Domain Observation
. Low Accelerating Voltage Observation
. Low Vacuum Observation